X光散射技术

华佗百科,全民书写的医学百科全书!
跳转至: 导航搜索
这幅图所显示的是晶体的X光衍射花样,所用晶体为一蛋白质晶体。图中的每一个黑点反映为一个衍射点,这些衍射点是由被晶体散射的X光相互干涉而形成。

X光散射技术X-ray scattering techniques)是一系列常用的非破坏性分析技术,可用于揭示物质的晶体结构、化学组成以及物理性质。这些技术都是以观测X射线穿过样品后的散射强度为基础,并根据散射角度、极化度和入射X光波长对实验结果进行分析。X光散射技术可在许多不同的条件下进行分析,例如不同的温度压力

X光衍射技术

X光衍射(X-ray diffraction)技术可以用于研究分子构象或形态。X光衍射技术是基于X光在穿过长程有序物质所发生的弹性散射。“衍射动力学理论”对晶体的散射现象给出了更为复杂的描述[1]。以下列出的是X光衍射的相关技术:

  • 单晶X射线衍射:用于解析晶态物质中分子的整体结构,研究范围可以从小的无机小分子到复杂的大分子,如蛋白质;可用单色性X光或连续波长X光(即“劳厄法”)进行研究。
  • 粉末衍射:也是一种获得晶体(微晶)结构的方法,所用样品为多晶态或粉末固态晶体。粉末衍射通常用于鉴定未知物质,主要通过将衍射数据与衍射数据国际中心(International Centre for Diffraction Data,ICDD)中的衍射数据库进行比较。这一技术或可用于鉴定非均一态的固体混合物,确定其中含量相对丰富的晶态物质;而且,当与网格修正技术(如Rietveld修正)连用时,还可以提供未知物质的结构信息。粉末衍射也是确定晶态物质晶系的常用方法,并可用于测定晶体颗粒的大小。
  • 薄膜衍射。
  • X射线极图分析:用于分析和测定晶态薄膜样品中晶态方位。
  • X射线回摆曲线分析法:用于定量测量晶态物质的粒度大小和镶嵌度散布。

散射技术

弹性散射

即使是非晶态物质(非长程有序),也可能可以用依赖于单色性X光的弹性散射的方法来研究:

非弹性散射

非弹性散射的X射线的能量和角度被监测时,相关的散射技术就可以用于探测物质的能带结构

参考文献

  1. ^ (英文)Azároff, L. V.; R. Kaplow, N. Kato, R. J. Weiss, A. J. C. Wilson, R. A. Young. X-ray diffraction. McGraw-Hill. 1974. 
  2. ^ (英文)Glatter, O.; O. Kratky. Small Angle X-ray Scattering. Academic Press. 1982. 
  3. ^ (英文) Holy, V. et al. Phys. Rev. B. 47, 15896 (1993).

参见

外部链接

|